2016 - 2019
degradation - from Voodoo to a well-understood failure mechanism , Humidity Workshop, Bremen, 2019. AlexanderBrunko und Nando Kaminski, Herausforderungen bei Feuchtetests mit GaN-Bauelementen , Halbleiterkolloquium [...] Sarah Rugen, Gate-Oxide von SiC-MOSFETs , Leistungselektronik-Nord Kolloquium, Magdeburg, 2019. AlexanderBrunko, Lebensdauerabschätzung von Halbleitern in Windenergieanlagen , Leistungselektronik-Nord Kolloquium [...] Proceedings of the International Reliability Physics Symposium (IRPS’19), Monterey CA, April 2019 A. Brunko, W. Holzke, H. Groke, B. Orlik und N. Kaminski, Model-Based Condition Monitoring of Power Semiconductor