Allgemeine Informationen

• Untersuchungsgebiete

  Electron Microscopy
• Techniken

  Scanning Electron Microscopy
  
• Hersteller

  Jeol
• Herstellungsjahr

  2011
• Hauptanwendung

  Scanning Electron Microscopy

Spezifikationen des Geräts

• Technische Aspkete

   SE and BE detectors;

  EDX detector for quantitative chemical analysis;

  Jeol JSM-6510 Scanning Electron Microscope with W-emitter (maximum resolution 3 nm @ 30 kV);

  Detectors: Secondary electrons; backscattered electrons;

  Bruker X-Flash solid state detector for X-ray spectroscopy, enabling qualitative and quantitative analysis, analysis along line profiles and sample mapping.

Kontaktperson

• Anwendungswissenschaftler

  Lars Robben
  Fachbereich 2 , IACK
  NW2/C3051
  Telefonnummer 63142
  lrobbenprotect me ?!uni-bremenprotect me ?!.de
• Führender Anwendungswissenschaftler

  Thorsten Gesing
  

Gerätestandort

• Gruppe

  Chemische Kristallographie fester Stoffe
• Gebäude

  NW2
• Raum

  C3230
• Fachbereich

  Fachbereich 2
• Institut (Außeruniversitär)

  IACK