Instrument Database

Electron Microscopy

Titan 80-300 ST

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Allgemeine Informationen

  • Untersuchungsgebiete
  • Techniken
    Transmission Electron Microscopy
  • Hersteller
    FEI
  • Herstellungsjahr
    2007
  • Gemessene Größe
    Morphological quantities, Elemental distribution, Strain distribution
  • Hauptanwendung
    (Scanning) transmission electron microscopy
  • In-situ, real-time kompatibel
    Ja
  • Korrelierter Arbeitsablauf verfügbar
    Ja

Spezifikationen des Geräts

  • Technische Aspkete

    Electron energy loss spectrometer;

    EDX detector and HAADF detectors;

    Tomography holder;

    Heating(RT-1000°C)/cooling(lN2-70°C) holder;

    Electron biprism

     

  • In-situ-Möglichkeiten
    Temperatures (RT-1000°C, lN2-70°C), Electrical biasing
  • Korrelierter Arbeitsablauf
    Correlation with FIB/SEM and any other technique that allows marking of specimen positions for FIB/SEM

Kontaktperson

Gerätestandort

  • Gruppe
    AG Rosenauer
  • Gebäude
    NW1
  • Raum
    O0050
  • Fachbereich
    Fachbereich 1
  • Institut Der Universität Bremen
    IFP
Aktualisiert von: MAPEX