Instrument Database
Electron Microscopy
Auriga 40 Scanning Electron Microscope
Allgemeine Informationen
- Untersuchungsgebiete
- TechnikenScanning Electron Microscopy
- HerstellerZeiss
- Herstellungsjahr2012
- Gemessene GrößeDimensions, surface morphology, composition
- HauptanwendungMicroscopy with up to nm resolution, material characterization
- Korrelierter Arbeitsablauf verfügbarJa
Spezifikationen des Geräts
- Technische Aspkete
Auriga 40 from Zeiss - FIBSEM - with energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS) from Oxford - X-max 150, In-lens-detector for high resolution, energy selective backscatter electron (EsB)-detector for low kV-range, charge compensation (CC), backscatter detector for high kV range
holders for 4 and 6 inch wafers, 9-stub-holder for 12,5 mm diameter pin stubs, holder for one dove tail stub
- Korrelierter ArbeitsablaufX-ray microscopy (XRM)
- Weitere UntersuchungsmöglichkeitenLift-out system for TEM lamella preparation
Kontaktperson
- AnwendungswissenschaftlerEva-Maria Meyer
Fachbereich 1
NW1 O 01120
Telefonnummer 0049-421-218-62617
emeyerprotect me ?!imsas.uni-bremenprotect me ?!.de - Daniel Gräbner
Fachbereich 1
NW1 Raum O 1040
Telefonnummer 0049-421-218-62575
dgraebnerprotect me ?!imsas.uni-bremenprotect me ?!.de - Führender AnwendungswissenschaftlerBergmann, Ralf
Lang, Walter
Gerätestandort
- GebäudeNW1
- RaumO0080
- FachbereichFachbereich 1
- Institut Der Universität BremenIMSAS