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Dual Beam Helios G4 PFIB

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Allgemeine Informationen

  • Untersuchungsgebiete
  • Techniken
    Electron/Ion beam
  • Hersteller
    ThermoFisher
  • Herstellungsjahr
    2020
  • Hauptanwendung
    Imaging of the surface (including SE, BSE) with various additional detectors including STEM. Analysis by EDX, EBSD and ToF-SIMS. Ablation by ion beam incl. slicing and 3D imaging.
  • In-situ, real-time kompatibel
    Ja

Spezifikationen des Geräts

  • In-situ-Möglichkeiten

Kontaktperson

Gerätestandort

  • Raum
    LFM0090
  • Institut (Außeruniversitär)
    IWT
Aktualisiert von: MAPEX