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Surface Analytics
Dual Beam Helios G4 PFIB
Allgemeine Informationen
- Untersuchungsgebiete
- TechnikenElectron/Ion beam
- HerstellerThermoFisher
- Herstellungsjahr2020
- HauptanwendungImaging of the surface (including SE, BSE) with various additional detectors including STEM. Analysis by EDX, EBSD and ToF-SIMS. Ablation by ion beam incl. slicing and 3D imaging.
- In-situ, real-time kompatibelJa
Spezifikationen des Geräts
- In-situ-Möglichkeiten
Kontaktperson
- AnwendungswissenschaftlerAndree Irretier
, IWT
Telefonnummer +49 421 218 51419
irretierprotect me ?!mpa-bremenprotect me ?!.de - Führender AnwendungswissenschaftlerRainer Fechte-Heinen
Gerätestandort
- RaumLFM0090
- Institut (Außeruniversitär)IWT