Allgemeine Informationen

• Untersuchungsgebiete

  Electron Microscopy
• Techniken

  Scanning Electron Microscopy
  
• Hersteller

  Zeiss
• Herstellungsjahr

  2008
• Gemessene Größe

  surface morphology, composition, particle sizes
• Hauptanwendung

  Materials Chemistry and Mineralogy / Materials Analysis

Spezifikationen des Geräts

• Technische Aspkete

  The FE-SEM  is equipped with various detectors (SE2 / Inlens / BSD) and provides conclusions about the topography and material composition of the sample. The Bruker EDS detector XFlash 6|30 has an active surface of 30 mm2 and an energy resolution of <129 eV at Mn-Kα. Due to the high pulse rates, single point analysis, area analysis as well as linear analysis (line scan) and element mapping are possible within the shortest measurement time.

Kontaktperson

• Anwendungswissenschaftler

  Witte, Petra
  Fachbereich 5
  
  Telefonnummer 65156
  semfb5protect me ?!uni-bremenprotect me ?!.de
• Führender Anwendungswissenschaftler

  Wolfgang Bach
  

Gerätestandort

• Gruppe

  AG Petrologie der Ozeankruste
• Gebäude

  GEO
• Raum

  2216
• Fachbereich

  Fachbereich 5