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Dimension Icon XR
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Allgemeine Informationen
- Untersuchungsgebiete
- TechnikenAtomic Force Microscopy
- HerstellerBruker
- Herstellungsjahr2021
- Gemessene GrößeRMS, surface morphology
- HauptanwendungMeasuring of surface morphology
Spezifikationen des Geräts
- Technische Aspkete
Features of the AFM: ScanAsyst, DCUBE-TUNA, DCUBE-SCM, FAST TAPPING, KPFM, NanoLithography, NanoMan, NanoScope Realtime, PeakForce QNM, Ramp&Hold
Kontaktperson
- AnwendungswissenschaftlerEickhoff, Martin
Fachbereich 1
NW1 M4070 Institut für Festkörperphysik
Telefonnummer 0421 218 62220
martin.eickhoffprotect me ?!uni-bremenprotect me ?!.de - Hinz, Alexander
Fachbereich 1
NW1 M4100 Institut für Festkörperphysik
Telefonnummer 0421 218 62216
ahinzprotect me ?!uni-bremenprotect me ?!.de - Führender AnwendungswissenschaftlerEickhoff, Martin
Gerätestandort
- GruppeAG Festkörpermaterialien
- GebäudeNW1
- RaumO0070
- FachbereichFachbereich 1
- Institut Der Universität BremenIFP