Allgemeine Informationen

• Untersuchungsgebiete

  3D Materials Analytics
• Techniken

  X-ray computed tomography
  
• Hersteller

  GE
• Herstellungsjahr

  2014
• Gemessene Größe

  3D-shape; defects; interfaces; volume
• Hauptanwendung

  Non destructive testing (NDT) of metals, compound materials, opto-electronic components, etc.

Spezifikationen des Geräts

• Technische Aspkete

  Max. object size: (height x diameter) 600 mm x 500 mm

  Max. scan range: (height x diameter) 290 mm x 400 mm

  nanofocus x-ray tube - 180 kV / 15 W,  < 1 µm  resolution (for 2mm sample diameter) 

  microfocus x-ray tube - 240 kV / 320 W, > 3 µm  resolution / transmission < 40 mm steel

• Weitere Untersuchungsmöglichkeiten

  Talbout-Lau-Graitung-Interferometer

Kontaktperson

• Anwendungswissenschaftler

  Christian Kapitza
  
  FZB / BIAS
  Telefonnummer 218-58034
  kapitzaprotect me ?!biasprotect me ?!.de
• Oliver Focke
  , FIBRE
  IW 3
  Telefonnummer 218-58655
  fockeprotect me ?!faserinstitutprotect me ?!.de
• Führender Anwendungswissenschaftler

  Bergmann, Ralf
  Herrmann, Axel
  

Gerätestandort

• Gruppe

  FIBRE/BIAS
• Gebäude

  Ecomat