Instrument Database
MAPEX Gerätedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Geräte, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zuständigen Gerätebetreibenden in Kontakt zu treten.
- Gerät
HerstellerCircular Dichroism Spectrometer
Applied PhotophysicsUntersuchungsgebieteTechnikCircular Dichroism SpectrometryKernmerkmaleSurface and interface characterization; (Secondary) structure detection of biomoleculesKontakt - Gerät
HerstellerOmicron STM/XPS/LEED
OmicronUntersuchungsgebieteTechnikScanning Tunneling Microscopy, X-ray Photoelectron Spectroscopy, and Low-Energy Electron MicroscopyKernmerkmalehigh resolution, in-situ ability of complementary methods under ultra-high vacuum conditionsKontakt - Gerät
HerstellerLow-energy electron microscope
ElmitecUntersuchungsgebieteTechnikLow-energy Electron MicroscopyKernmerkmalein situ sample preparation by molecular beam epitaxyKontakt - Gerät
HerstellerLabRam ARAMIS
Horiba Jobin YvonUntersuchungsgebieteTechnikRaman spectroscopyKernmerkmale532 nm, 633 nm and 785 nm lasers; Temperature dependent measurementsKontakt - Gerät
HerstellerIFS 66v/S FT-IR spectrometer
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikInfrared SpectroscopyKernmerkmaleFIR, MIR, NIRKontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikRaman spectroscopyKernmerkmaleIR-Raman (1064 nm) when fluorescence is an issueKontakt - Gerät
HerstellerSpectrometry laboratory
VariousUntersuchungsgebieteTechnikOptical Emission Spectroscopy
Glow Discharge Optical Emission SpectrometryKernmerkmaleOptical Emission Spectroscopy, Glow Discharge Optical Emission SpectrometryKontakt - Gerät
HerstellerFlexPL
VariousUntersuchungsgebieteTechnikLow temperature photoluminescence
Raman spectroscopyKernmerkmaleHigh flexibility: This is a fully customized setup for advanced spectroscopy. Thus, it can be modified to individual needs. This is not a "black-box" system as sold be various companies.Kontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikInfrared SpectroscopyKernmerkmaleMeasures thermo-optical properties of materials; Integrating sphereKontakt - Gerät
Hersteller(AR)XPS/UPS/LEED/TPD
SPECSUntersuchungsgebieteTechnikThermal programmed desorption
Photoemission spectroscopy
Low-energy Electron DiffractionKernmerkmale-Kontakt