Instrument Database
MAPEX Gerätedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Geräte, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zuständigen Gerätebetreibenden in Kontakt zu treten.
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Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikSingle-crystal X-ray Diffraction
Kernmerkmalemonochromatic Mo K_alphaKontakt -
Gerät
HerstellerCircular Dichroism Spectrometer
Applied PhotophysicsUntersuchungsgebieteTechnikCircular Dichroism Spectrometry
KernmerkmaleSurface and interface characterization; (Secondary) structure detection of biomoleculesKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikSingle-crystal X-ray Diffraction
KernmerkmaleIn-situ measurements from 100 K to 293 KKontakt -
Gerät
HerstellerOmicron STM/XPS/LEED
OmicronUntersuchungsgebieteTechnikScanning Tunneling Microscopy, X-ray Photoelectron Spectroscopy, and Low-Energy Electron Microscopy
Kernmerkmalehigh resolution, in-situ ability of complementary methods under ultra-high vacuum conditionsKontakt -
Gerät
HerstellerTitan 80-300 ST
FEIUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron Microscopy
KernmerkmaleAberration corrector for imaging lens; In-situ heating and coolingKontakt -
Gerät
HerstellerFastScanning AFM
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
KernmerkmaleFast scans (> 125 Hz) Air or fluid environments; Range of 90 µm x 90 µm; Reduced noise levelKontakt -
Gerät
HerstellerXradia 520 Versa
ZEISSUntersuchungsgebieteTechnik3D X-ray Microscopy
KernmerkmaleHigh contrast; 3D crystallographic grain information; In-situ and 4D (time-dependent) experiments; sub-µm resolutionKontakt -
Gerät
HerstellerDMA
TA InstrumentsUntersuchungsgebieteTechnikDynamic Mechanical Analysis
KernmerkmaleTemperature range 20 - 420 °C; Optical encoder; Air bearings; FurnaceKontakt -
Gerät
HerstellerX-ray laboratory
VariousUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleSeveral diffractometers with different X-ray sources and capabilitiesKontakt -
Gerät
HerstellerLabRam ARAMIS
Horiba Jobin YvonUntersuchungsgebieteTechnikRaman spectroscopy
Kernmerkmale532 nm, 633 nm and 785 nm lasers; Temperature dependent measurementsKontakt -
Gerät
HerstellerLow-energy electron microscope
ElmitecUntersuchungsgebieteTechnikLow-energy Electron Microscopy
Kernmerkmalein situ sample preparation by molecular beam epitaxyKontakt -
Gerät
HerstellerX-ray powder diffractometer Stadi MP
Stoe & Cie GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleIn-situ heating and cooling; Monochromized Mo radiation; Fast data collectionKontakt -
Gerät
HerstellerSpectra 300
ThermoFisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron Microscopy
KernmerkmaleIn-situ heating and cooling; EDX detector; Electrical biasingKontakt -
Gerät
HerstellerSkyScan 1275
BrukerUntersuchungsgebieteTechnik3D X-ray Microscopy
KernmerkmaleEasy to use, high resolution 3D X-ray microtomography and structure reconstructionKontakt -
Gerät
HerstellerComplex Irradiation Facility
DLR Bremen, Institute of Space SystemsUntersuchungsgebieteTechnikSpace Environment Testing
KernmerkmaleExperimental research into the degradation of materials under simulated space radiation conditionsKontakt -
Gerät
HerstellerMicro-VCM Teststand
DLR BremenUntersuchungsgebieteTechnikOutgassing testing
KernmerkmaleThermal vacuum outgassing test for the screening of space materials.Kontakt -
Gerät
HerstellerLMD - Laser Metal Deposition
LunovuUntersuchungsgebieteTechnikLaser Metal Deposition
KernmerkmaleHigh-throughput generation of materials samplesKontakt -
Gerät
Hersteller(AR)XPS/UPS/LEED/TPD
SPECSUntersuchungsgebieteTechnikThermal programmed desorption
Photoemission spectroscopy
Low-energy Electron Diffraction
Kernmerkmale-Kontakt -
Gerät
HerstellerQuattro S
Thermo Fisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
Thermomechanical Analysis
KernmerkmaleEnvironmental scanning of biological materials at low vacuum (up to 2000 pa) and different humidity and/or temperature conditions.Kontakt -
Gerät
HerstellerAMSY-6
Vallen Systeme GmbHUntersuchungsgebieteTechnikAcoustic Emission
Kernmerkmale4 acoustic emission channels with sampling rate of up to 40 MS/sKontakt -
Gerät
HerstellerEllipsometer - UVISEL 2
HoribaUntersuchungsgebieteTechnikEllipsometry
KernmerkmaleFully automated ellipsometry, with layer modelling and fitting. Simultaneous multiple parameter determination.Kontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikPhotoluminescence Quantum Yield
KernmerkmaleCan be used for a variarity of samples (multilayer samples, powder samples, liquids, etc.). Easy to use: drawer insertion to the Fluorolog and connection to the Fluorlog system.Kontakt -
Gerät
HerstellerThinky Mixer ARV-310P
Thinky U.S.A., INC.UntersuchungsgebieteTechnikMixer
KernmerkmaleSimultaneous mixing, dispersion, and submicron-level air bubble elimination; deaeration of high-viscosity materials difficult to be processed by a centrifugal separator; reduced processing time and improved deareation performance compared to atmospheric type mixer; centrifugal force of revolution prevents overflow of material during operationKontakt -
Gerät
HerstellerX-Ray-Protection cabine
PROCONUntersuchungsgebieteTechnikX-Ray / Interferometry
KernmerkmaleLarge-scale experimental platform / Talbot-Lau Grating InterferometerKontakt