Instrument Database
MAPEX Gerätedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Geräte, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zuständigen Gerätebetreibenden in Kontakt zu treten.
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Gerät
HerstellerBruker D8 Advance
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleBragg Brentano and capillary transmission geometries; Mo and Cu sources; In-situ heating and coolingKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikSingle-crystal X-ray Diffraction
Kernmerkmalemonochromatic Mo K_alphaKontakt -
Gerät
HerstellerXRD 3003
GE Sensing & Inspection Technologies GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmalePowder diffractometerKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikSingle-crystal X-ray Diffraction
KernmerkmaleIn-situ measurements from 100 K to 293 KKontakt -
Gerät
HerstellerOmicron STM/XPS/LEED
OmicronUntersuchungsgebieteTechnikScanning Tunneling Microscopy, X-ray Photoelectron Spectroscopy, and Low-Energy Electron Microscopy
Kernmerkmalehigh resolution, in-situ ability of complementary methods under ultra-high vacuum conditionsKontakt -
Gerät
HerstellerTitan 80-300 ST
FEIUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron Microscopy
KernmerkmaleAberration corrector for imaging lens; In-situ heating and coolingKontakt -
Gerät
HerstellerX-ray laboratory
VariousUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleSeveral diffractometers with different X-ray sources and capabilitiesKontakt -
Gerät
HerstellerX-ray powder diffractometer Stadi MP
Stoe & Cie GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleIn-situ heating and cooling; Monochromized Mo radiation; Fast data collectionKontakt -
Gerät
HerstellerSpectra 300
ThermoFisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron Microscopy
KernmerkmaleIn-situ heating and cooling; EDX detector; Electrical biasingKontakt -
Gerät
HerstellerSkyScan 1275
BrukerUntersuchungsgebieteTechnik3D X-ray Microscopy
KernmerkmaleEasy to use, high resolution 3D X-ray microtomography and structure reconstructionKontakt -
Gerät
HerstellerSupra 40
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleThe Inlens-Detector with its high detection efficiency allows the imaging of nanoparticles as small as 15 nm. The special electron optics, which lead to very good results, especially in low-voltage applications.Kontakt -
Gerät
HerstellerDimension Icon XR
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
Kernmerkmale-Kontakt -
Gerät
HerstellerHelios 600
FEI / ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleCryo-FIB, Slice&ViewKontakt -
Gerät
HerstellerQuattro S
Thermo Fisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
Thermomechanical Analysis
KernmerkmaleEnvironmental scanning of biological materials at low vacuum (up to 2000 pa) and different humidity and/or temperature conditions.Kontakt -
Gerät
HerstellerThinky Mixer ARV-310P
Thinky U.S.A., INC.UntersuchungsgebieteTechnikMixer
KernmerkmaleSimultaneous mixing, dispersion, and submicron-level air bubble elimination; deaeration of high-viscosity materials difficult to be processed by a centrifugal separator; reduced processing time and improved deareation performance compared to atmospheric type mixer; centrifugal force of revolution prevents overflow of material during operationKontakt -
Gerät
HerstellerX-Ray-Protection cabine
PROCONUntersuchungsgebieteTechnikX-Ray / Interferometry
KernmerkmaleLarge-scale experimental platform / Talbot-Lau Grating InterferometerKontakt