Veröffentlichungen
Alexander Brunko und Nando Kaminski, Herausforderungen bei Feuchtetests mit GaN-Bauelementen , Halbleiterkolloquium, Freiburg i.Br., 2019. Sarah Rugen, Gate-Oxide von SiC-MOSFETs , Leistungselektronik-Nord [...] Kolloquium, Magdeburg, 2019. Alexander Brunko, Lebensdauerabschätzung von Halbleitern in Windenergieanlagen , Leistungselektronik-Nord Kolloquium, Magdeburg, 2019. Nando Kaminski, Model-Based Lifetime [...] Failure Physics and Analysis (ESREF’19), Toulouse, 2019. Christian Zorn, Alterung von Leistungshalbleitermodulen im Temperatur-Feuchte-Spannungs-Test , Universität Bremen, IALB, 2019 Steffen Menzel, René