2016 - 2019
on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF’19), Toulouse, 2019. ChristianZorn, Alterung von Leistungshalbleitermodulen im Temperatur-Feuchte-Spannungs-Test , Universität Bremen [...] C. Zorn, N. Kaminski, M. Domeij, F. Allerstam, B. Buono, J. Franchi, T. Neyer, “H³TRB Test on 1.2 kV SiC MOSFETs”, Proceedings of PCIM’18 (Europe), Nuremberg, pp. 1506‑1511, June 2018 2017 C. Zorn, M. [...] werkzeuge und der auftretenden electrodynamischen Effekte, Universität Bremen, IALB, 2019 2018 C. Zorn, F. Hoffmann, M. Hanf, N. Kaminski, F. Allerstam, A. Konstantinov, T. Neyer, “H³TRB Test on 650 V