Zum Inhalt springen

Detailansicht

Ingenieurinnen und Ingenieure aus aller Welt kommen zum European Test Symposium nach Bremen

Der Universität Bremen ist es gelungen, eine der bedeutendsten Konferenzen für den Test elektrischer Schaltkreise und Systeme an die Weser zu holen. Vom 28. Mai bis zum 1. Juni 2018 wird hier fünf Tage lang das 23. European Test Symposium (ETS) stattfinden.

Es wird von der Deutschen Forschungsgemeinschaft (DFG) unterstützt und mit insgesamt 25.000 Euro gefördert. Den Vorsitz bei der Konferenz, die im Hotel Swissôtel ausgerichtet wird, hat Professor Rolf Drechsler. Er leitet die Arbeitsgruppe Rechnerarchitektur im Fachbereich Mathematik/Informatik der Universität Bremen und den Forschungsbereich Cyber-Physical Systems des Deutschen Forschungszentrums für Künstliche Intelligenz (DFKI). Drechsler freut sich auf den internationalen Austausch: „Wir werden Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler aus der ganzen Welt in der Hansestadt begrüßen und ihnen einen diskussionsfreudigen und informativen Austausch ermöglichen. Den Trends und Entwicklungen im Bereich der Überprüfung elektronischer Systeme kommt in unserer Gesellschaft eine zunehmende Bedeutung zu. Die Systeme sind die Grundpfeiler der Digitalisierung. Umso spannender ist es zu sehen, welche Fortschritte auf diesem Gebiet zu beobachten und wissenschaftlich sowie praxisnah umzusetzen sind.“

Was ist Gegenstand der internationalen Konferenz?

Das 23. European Test Symposium ist eine Veranstaltung des Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), dessen weltweitem Berufsverband Ingenieurinnen und Ingenieure aus den Bereichen Elektrotechnik und Informationstechnik angehören. Beim ETS werden neue Ideen und Trends im Bereich Test und Zuverlässigkeit elektrischer Schaltkreise und Systeme vorgestellt. Die Themengebiete der Konferenz umfassen den digitalen und analogen Test von Schaltungen sowie die Verbesserung der Testbarkeit und die Reduzierung der Kosten. Neben klassischen Computerchips wird auch die Prüfung neuartiger Technologien wie Microfluidic Chips behandelt. Die Teilnehmerinnen und Teilnehmer kommen sowohl aus der Wissenschaft als auch aus der Industrie. Das Anmeldeverfahren hat bereits begonnen.

In Verbindung mit der ETS findet zudem die dreitägige Test Spring School (TSS) vom 25. bis 28. Mai 2018 im Schloss Etelsen in Langwedel statt. Dort werden die Herausforderungen moderner Sicherheitstechnologien präsentiert. In diesem Jahr steht die Sicherheit von Hardware im Fokus.

Die Test Spring School richtet sich gezielt an Nachwuchswissenschaftlerinnen und -wissenschaftler sowie Doktoranden.

Weitere Informationen: http://www.ets18.de

Fragen beantwortet:

Prof.Dr. Rolf Drechsler
Universität Bremen
Fachbereich Mathematik/Informatik
Arbeitsgruppe Rechnerarchitektur (AGRA)
Telefon 0421 218 – 63932
E-Mail: drechslerprotect me ?!informatik.uni-bremenprotect me ?!.de